به گزارش روابط عمومی دانشگاه، دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی ( AFM_Brisk ) با حمایت معاونت علمی فناوری و اقتصاد دانش بنیان ریاست جمهوری خریداری و در محل آزمایشگاه مرکزی نصب و راهاندازی شد با توجه به اینکه اساس کار این دستگاه بر پایه سنجش نیروی اتمی بین تیپ و سطح نمونه است لذا تصویربرداری با آن در مقیاس نانو در گستره وسیعی از نمونههای پلیمری، سرامیک، کامپوزیت، نمونههای زیستی، پودری و غیره امکانپذیر است. تصاویر حاصله اطلاعاتی در خصوص توپوگرافی و پارامترهای زبری سطح همچنین در مورد نمونههای پودری، بسته به نوع نمونه اعم از نانو ذره، نانو شیت، نانو تیوپ و غیره، اندازه الگوهای نانومتری را ارائه خواهد داد.